GRADIS分散系統(tǒng)適用于那些不需要太高分散能量的樣品比如晶體、沙粒、小粒等。下落柱可以對(duì)樣品提供均勻的分散效果并控制以保持顆粒在通過(guò)激光束的時(shí)候保持速度一致。它既可用于激光粒度儀主機(jī)HELOS，又可用于圖像分析儀主機(jī)QICPIC。
測(cè)試原理： 利用光的衍射現(xiàn)象，即大顆粒產(chǎn)生的衍射角小，小顆粒產(chǎn)生的衍射角大，通過(guò)計(jì)算探測(cè)器上收集到的不同衍射圖形的光強(qiáng)分布，來(lái)給出顆粒的粒度大小和粒度分布。 檢測(cè)粒度范圍： 0.5- 8750 微米 （可根據(jù)實(shí)際應(yīng)用范圍配置量程） 測(cè)試結(jié)果精度： 準(zhǔn)確度 σ ± 1 % 平均相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差(x10…x90) 測(cè)試重復(fù)性 σ < 0.3 % 多次取樣重復(fù)性誤差 儀器可比性 σ < 1 % 中位徑的平均相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 (x50) |Δx50| < 2.5 % 最大相對(duì)偏差 功能及特點(diǎn)：
1. 如需要，樣品可以在測(cè)試之后回收再利用
2. 可對(duì)非常粗的顆粒進(jìn)行檢測(cè)，而每次的樣品量可以達(dá)到公斤級(jí)
3. 下落柱的出口狹縫的寬度2 mm, 4 mm 或者 10 mm可手動(dòng)選擇，以適配樣品應(yīng)用
4. 在一些特殊的應(yīng)用中，可對(duì)下落柱進(jìn)行導(dǎo)電或者非導(dǎo)電的PTFE鍍膜處理
智藥研習(xí)社官方微信
制藥在線官方微信
2006-2025 上海博華國(guó)際展覽有限公司版權(quán)所有（保留一切權(quán)利）
滬ICP備05034851號(hào)-57
