產(chǎn)品描述：
美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀新的 CHDF 3000 提供：1】高分辨率粒度分布（PSD）測量 的新的技術，包括顆粒檢測高靈 敏度、動態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。2】粒子分餾的真的 PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進行假設。3】精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關的分析。4】自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。美國MAS應用科學公司的新 CHDF3000 系統(tǒng)，在高分辨率粒度分布（PSD）分析方面有*新的進展。CHDF3000 使用毛細管流體動力分餾（CHDF）技術按大小分離顆粒。架構于光散射儀器、主要提供平均粒徑數(shù)據(jù)—任何平均粒徑都可由無限多的 PSD 產(chǎn)生（見下文）。相反，CHDF3000在 5 納米到 3 微米范圍內提供完整、真實、詳細的 PSD 數(shù)據(jù)。接下來將介紹CHDF3000 的一些優(yōu)勢亮點。美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀優(yōu)勢：毛細流體動力分餾：詳細 PSD 數(shù)據(jù)、廣泛多樣 PSD 準確報告寬動態(tài)范圍檢測：在主要粒子群中，對次要粒子群進行大動態(tài)范圍檢測可靠性高的和簡易操作：質量控制/研發(fā)/在線使用v全面的粒度分布數(shù)據(jù)報告v連續(xù)監(jiān)測/控制所有測量數(shù)據(jù)：與泵、紫外線檢測器和自動采樣器串聯(lián)v占地面積小v其他自動取樣器/無人值守分析樣品量： 10%的高分辨率能力適用于非均勻成分樣品、獨立顆粒密度樣品量： < 1 ml (v)
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